| ГОСТ 30617-98 действующий Модули полупроводниковые силовые. Общие технические условия Дата введения: 30.06.2002 |
| ГОСТ 17465-80 действующий Диоды полупроводниковые. Основные параметры Дата введения: 01.01.1982 |
| ГОСТ 18986.0-74 действующий Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения Дата введения: 01.01.1976 |
| ГОСТ 18986.1-73 действующий Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока Дата введения: 01.01.1975 |
| ГОСТ 18986.3-73 действующий Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока Дата введения: 01.01.1975 |
| ГОСТ 18986.4-73 действующий Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости Дата введения: 01.01.1975 |
| ГОСТ 18986.5-73 действующий Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения Дата введения: 01.01.1975 |
| ГОСТ 18986.6-73 действующий Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления Дата введения: 01.01.1975 |
| ГОСТ 18986.7-73 действующий Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда Дата введения: 01.01.1975 |
| ГОСТ 18986.8-73 действующий Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления Дата введения: 01.01.1975 |
| ГОСТ 18986.9-73 действующий Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления Дата введения: 01.01.1975 |
| ГОСТ 18986.10-74 действующий Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности Дата введения: 30.06.1976 |
| ГОСТ 18986.11-84 действующий Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь Дата введения: 30.06.1985 |
| ГОСТ 18986.12-74 действующий Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода Дата введения: 30.06.1976 |
| ГОСТ 18986.13-74 действующий Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора Дата введения: 30.06.1976 |