| ГОСТ 11630-84 действующий Приборы полупроводниковые. Общие технические условия : 30.06.1985 |
| ГОСТ 17772-88 действующий Приемники излучения полупроводниковые фотоэлектрические и фотоприемные устройства. Методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик : 30.06.1989 |
| ГОСТ 18472-88 действующий Приборы полупроводниковые. Основные размеры : 30.06.1989 |
| ГОСТ 18986.15-75 действующий Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации : 01.01.1977 |
| ГОСТ 18986.17-73 действующий Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации : 30.06.1974 |
| ГОСТ 18986.20-77 действующий Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим : 01.01.1979 |
| ГОСТ 18986.21-78 действующий Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации : 01.01.1980 |
| ГОСТ 18986.22-78 действующий Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления : 01.01.1980 |
| ГОСТ 18986.23-80 действующий Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума : 01.01.1982 |
| ГОСТ 20859.1-89 действующий Приборы полупроводниковые силовые. Общие технические требования : 01.01.1990 |
| ГОСТ 23900-87 действующий Приборы полупроводниковые силовые. Габаритные и присоединительные размеры : 30.06.1988 |
| ГОСТ 24041-80 действующий Таситроны. Основные параметры : 30.06.1981 |
| ГОСТ 24376-91 действующий Инверторы полупроводниковые. Общие технические условия : 01.01.1992 |
| ГОСТ 24461-80 действующий Приборы полупроводниковые силовые. Методы измерений и испытаний : 01.01.1982 |
| ГОСТ 24607-88 действующий Преобразователи частоты полупроводниковые. Общие технические требования : 01.01.1990 |