.
: 747.   .:     1      2      3     4     5      6      7     ...     47      48      49   


ГОСТ 21342.8-76  действующий

Терморезисторы. Метод измерения температурного коэффициента сопротивления

: 30.06.1977

ГОСТ 28626-90  действующий

Терморезисторы косвенного подогрева с отрицательным температурным коэффициентом сопротивления. Общие технические условия

: 30.06.1992

ГОСТ 28639-90  действующий

Терморезисторы косвенного подогрева с отрицательным температурным коэффициентом сопротовления. Форма технических условий. Уровень качества Е

: 30.06.1992

ГОСТ 4.431-86  действующий

Система показателей качества продукции. Приемники излучения фотоэлектрические. Номенклатура показателей

: 01.01.1987

ГОСТ 21342.7-76  действующий

Терморезисторы. Метод измерения сопротивления

: 30.06.1977

ГОСТ 21342.8-76  действующий

Терморезисторы. Метод измерения температурного коэффициента сопротивления

: 30.06.1977

ГОСТ 28626-90  действующий

Терморезисторы косвенного подогрева с отрицательным температурным коэффициентом сопротивления. Общие технические условия

: 30.06.1992

ГОСТ 28639-90  действующий

Терморезисторы косвенного подогрева с отрицательным температурным коэффициентом сопротовления. Форма технических условий. Уровень качества Е

: 30.06.1992

ГОСТ 17465-80  действующий

Диоды полупроводниковые. Основные параметры

: 01.01.1982

ГОСТ 18986.14-85  действующий

Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений

: 30.06.1986

ГОСТ 18986.24-83  действующий

Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения

: 30.06.1984

ГОСТ 19656.10-88  действующий

Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные переключательные и ограничительные. Методы измерения сопротивлений потерь

: 30.06.1989

ГОСТ 19834.0-75  действующий

Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров

: 30.06.1976

ГОСТ 19834.2-74  действующий

Излучатели полупроводниковые. Методы измерения силы излучения и энергетической яркости

: 01.01.1976

ГОСТ 19834.3-76  действующий

Излучатели полупроводниковые. Метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения

: 30.06.1977

  >> Электроника