Метрология и измерения. Физические явления
Линейные и угловые измерения
- Допуски и посадки
- Другие стандарты, связанные с линейными и угловыми измерениями
- Измерительные приборы
- Линейные и угловые измерения в целом
- Свойства поверхностей
| ГОСТ 8.591-2009 действующий Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки Дата введения: 01.11.2010 |
| ГОСТ 8.592-2009 действующий Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления Дата введения: 01.11.2010 |
| ГОСТ 8.593-2009 действующий Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки Дата введения: 01.11.2010 |
| ГОСТ 8.594-2009 действующий Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки Дата введения: 01.11.2010 |
| ГОСТ Р 8.628-2007 действующий Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления Дата введения: 01.02.2008 |
| ГОСТ Р 8.629-2007 действующий Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки Дата введения: 01.02.2008 |
| ГОСТ Р 8.630-2007 действующий Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки Дата введения: 01.02.2008 |
| ГОСТ Р 8.631-2007 действующий Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки Дата введения: 01.02.2008 |
| ГОСТ Р 8.635-2007 действующий Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки Дата введения: 31.07.2008 |
| ГОСТ Р 8.636-2007 действующий Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки Дата введения: 31.07.2008 |
| ГОСТ Р 8.644-2008 действующий Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки Дата введения: 31.05.2009 |
| ГОСТ Р 8.696-2010 действующий Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра Дата введения: 31.08.2010 |
| ГОСТ Р 8.697-2010 действующий Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа Дата введения: 31.08.2010 |
| ГОСТ Р 8.698-2010 действующий Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра Дата введения: 31.08.2010 |
| ГОСТ Р 8.700-2010 действующий Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа Дата введения: 01.11.2010 |