.

Электроника
Оптоэлектроника. Лазерное оборудование

213165-75


: действующий

13.02.1976
: 01.01.1979
: 06.04.2015
: 06.04.2015
: 16.01.2015
: 01.01.1970

:
№0 от 16.06.1988 (рег. 15.06.1988) «Срок действия продлен»№1 от 30.04.1984 (рег. 02.12.1983) «Срок действия продлен»

   213165-75 ZIP ZIP-


213165-75.  Фотоэлементы. Метод измерения нестабильности

Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения нестабильности фотоэлементов при фототоках в цепи фотоэлемента от 10 в ст. минус 10 А и выше.

ГОСТ 21316.5-75, 1.
ГОСТ 21316.5-75, 2.
ГОСТ 21316.5-75, 3.
ГОСТ 21316.5-75, 4.
ГОСТ 21316.5-75, 5.
ГОСТ 21316.5-75, 6.
  >> Электроника >> Оптоэлектроника. Лазерное оборудование