ГОСТ 213165-75

Статус: действующий

Издание: 13.02.1976
Введение: 01.01.1979
Актуализация текста: 06.04.2015
Актуализация описания: 06.04.2015
Последние изменение: 16.01.2015
Окончания срока действия: 01.01.1970

Список изменений:
№0 от 16.06.1988 (рег. 15.06.1988) «Срок действия продлен»№1 от 30.04.1984 (рег. 02.12.1983) «Срок действия продлен»

Скачать как ZIP-архив

ГОСТ 213165-75. Фотоэлементы. Метод измерения нестабильности

Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения нестабильности фотоэлементов при фототоках в цепи фотоэлемента от 10 в ст. минус 10 А и выше.