ГОСТы. Общероссийский классификатор стандартов

Электроника
Оптоэлектроника. Лазерное оборудование

ГОСТ 213164-75


Статус: действующий

13.02.1976
Введение: 01.01.1979
Актуализация текста: 06.04.2015
Актуализация описания: 06.04.2015
Последние изменение: 16.01.2015
Окончания срока действия: 01.01.1970

Список изменений:
№0 от 16.06.1988 (рег. 15.06.1988) «Срок действия продлен»№1 от 30.04.1984 (рег. 02.12.1983) «Срок действия продлен»

  Сохранить ГОСТ 213164-75 в ZIPСкачать как ZIP-архив


ГОСТ 213164-75.  Фотоэлементы. Метод измерения неравномерности чувствительности

Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения неравномерности чувствительности.

ГОСТ 21316.4-75, страница 1.
ГОСТ 21316.4-75, страница 2.
ГОСТ 21316.4-75, страница 3.
ГОСТ 21316.4-75, страница 4.
ГОСТ 21316.4-75, страница 5.
Общероссийский классификатор стандартов  >> Электроника >> Оптоэлектроника. Лазерное оборудование