.

748-11-1-2001.  Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем

Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов.

ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  1.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  2.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  3.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  4.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  5.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  6.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  7.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  8.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  9.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  10.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  11.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  12.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  13.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  14.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  15.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  16.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  17.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  18.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  19.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  20.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  21.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  22.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  23.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  24.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  25.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  26.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  27.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  28.
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001,  29.
  >> Электроника >> Интегральные схемы. Микроэлектроника