.

8593-2009.  Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592.

ГОСТ 8.593-2009,  1.
ГОСТ 8.593-2009,  2.
ГОСТ 8.593-2009,  3.
ГОСТ 8.593-2009,  4.
ГОСТ 8.593-2009,  5.
ГОСТ 8.593-2009,  6.
ГОСТ 8.593-2009,  7.
ГОСТ 8.593-2009,  8.
ГОСТ 8.593-2009,  9.
ГОСТ 8.593-2009,  10.
ГОСТ 8.593-2009,  11.
ГОСТ 8.593-2009,  12.
  >> Метрология и измерения. Физические явления >> Линейные и угловые измерения >> Линейные и угловые измерения в целом