.
: 1750.   .:    1     2      3      4     ...     114      115      116   


ГОСТ 8.591-2009  действующий

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки

: 01.11.2010

ГОСТ 8.592-2009  действующий

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления

: 01.11.2010

ГОСТ 8.593-2009  действующий

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

: 01.11.2010

ГОСТ 8.594-2009  действующий

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки

: 01.11.2010

ГОСТ Р 8.628-2007  действующий

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления

: 01.02.2008

ГОСТ Р 8.629-2007  действующий

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки

: 01.02.2008

ГОСТ Р 8.630-2007  действующий

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки

: 01.02.2008

ГОСТ Р 8.631-2007  действующий

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки

: 01.02.2008

ГОСТ Р 8.635-2007  действующий

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки

: 31.07.2008

ГОСТ Р 8.636-2007  действующий

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки

: 31.07.2008

ГОСТ Р 8.644-2008  действующий

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки

: 31.05.2009

ГОСТ Р 8.696-2010  действующий

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

: 31.08.2010

ГОСТ Р 8.697-2010  действующий

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа

: 31.08.2010

ГОСТ Р 8.698-2010  действующий

Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

: 31.08.2010

ГОСТ Р 8.700-2010  действующий

Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа

: 01.11.2010

  >> Метрология и измерения. Физические явления